NI 下一代工業測控系統——更高精度更快控制研討會
場次安排： 07/22 石家莊 |09/17 青島|09/22 南通 起止時間： 2008-06-12 至 2009-09-22
簡介：
當前，工業控制領域的競爭越發激烈，對于工業控制器的要求也越來越高。您可能需要把更高精度的測量和更高速度的控制集成到已有的系統中去。
本研討會將為您帶來高性能的測控解決方案。開放的軟件平臺不僅提供了多種高級算法加速開發流程，也可以方便地集成您已有的硬件產品降低系統升級成本。堅固可靠的硬件平臺集成了當前最先進的FPGA技術，可以滿足您對于高性能的測試和控制的需求。
此外，NI的工業平臺中還可以輕松集成機器視覺與運動控制系統，滿足您個性化的系統應用需求。
本次研討會為以下工程師精心設計：
控制工程師，自動化工程師，機械工程師及工業控制領域系統開發人員
研討會議程：
高精度測量
高性能分析
集成FPGA的高級控制平臺
與現有平臺方便的集成
涉及的產品/應用/演示包括：
LabVIEW，LabVIEW DSC，NI OPC Server
CompactRIO，NI機器視覺平臺，NI運動控制平臺，Touch Panel
CompactRIO Scan Mode演示
用戶案例介紹：
鋼鐵冶金，軌道控制，汽車工業等行業對于高性能測量與控制的應用
網絡資源：
ni.com/china/pac
ni.com/china/industrial
07/22 石家莊 14:00 - 17:00 具體地點以電話確認為準
9/17 青島 14:00 - 17:00 具體地點以電話確認為準
9/22 南通 14:00 - 17:00 具體地點以電話確認為準
更多研討會資料：
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