NI下一代自動化測試系統架構指南研討會
場次安排: 起止時間: 2008-06-12 至 2008-06-19
簡介:
本次研討會將會探討下一代自動化測試系統發展的趨勢和需求,并提出以軟件為中心的模塊化的架構,以構建靈活可擴展的、可靠的測試系統,進一步提升系統的吞吐能力,降低系統的投資。內容將涉及系統管理軟件、應用軟件、驅動和服務以及強大的PXI/PXI Express平臺和模塊化的I/O,并通過實際的RF射頻系統的案例加以貫穿和總結。
本次研討會專為以下工程師量身定做/精心設計:
自動化測試測量工程師、研究人員和架構師
您將通過本次研討會:
了解下一代自動化測試系統發展的趨勢和需求
如何構建軟件定義的模塊化的測試系統
如何滿足客戶對測試系統高性能、可靠性、靈活性、可擴展性、低成本和長期使用性的要求
涉及的產品/應用/演示包括:
LabVIEW,LabWindows/CVI,TestStand,DIAdem
PXI/PXI Express平臺的介紹以及各類模塊化硬件
用戶案例介紹:
Harris便攜式RF測試系統
時間地點:
06/19 上海 14:00——17:00(13:45開始進場)
上海新錦江大酒店4樓蘭花廳(上海盧灣區長樂路161號)
研討會相關資源:
NI 常規測量指南
LabVIEW 專家組競賽獲獎例程
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