NI 工業測控系統應用資料集(2010)
2010/8/19 16:23:08
-
資料格式：
zip
-
資料大小：
0.794MB
-
授權方式：
免費
-
簡介：
NI LabVIEW圖形化開發環境，結合基于配置的工具和強大的編程功能，適于開發配有專業用戶界面的測量、分析和控制應用程序。NI LabVIEW和NI PAC幫助用戶輕松觸及FPGA技術，用戶因而能夠自行定義控制電路，同時削減了傳統自定義硬件中的復雜性和成本。
更多內容請訪問 NI-美國國家儀器有限公司
（http://c.gongkong.com/?cid=49325)
投訴建議
版權聲明
提交
查看更多評論
其他資料
LabVIEW 2015評估版軟件
全新高性能CompactRIO控制器簡化工業控制系統復雜度
NI myRIO入門實驗指導書
《基于NI ELVIS的傳感器測量及應用》實驗指導書
NI LabVIEW 2012快速自定義靈活測試