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應用案例 | 3D線激光SIM卡托平面度檢測,讓你信號滿滿!

應用案例 | 3D線激光SIM卡托平面度檢測,讓你信號滿滿!

SIM卡托多選用不銹鋼片或者合金材料加工而成,來確保SIM卡托在實際使用過程中具有足夠的堅韌度。但在生產過程中由于一些因素,可能會出現SIM卡托表面不平整或者缺陷,若未能及時發現,在裝配成品后會影響產品的使用性能。


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利用三維線激光掃描儀,來檢測SIM卡托是否缺陷或者損壞,采用非接觸方式無需擔心劃傷目標物,在高速、精細和重復的檢測過程中也更加可靠,與傳統的人工檢測方法相比,具有不可替代的優越性。



01 

三維線激光掃描儀


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02

激光三角反射原理


1.三維輪廓掃描儀發射線激光,測量物體被照射后表面形成漫反射,反射光通過 CMOS 芯片進行接收,通過計算反射光在芯片的位置,可以得到被測物體的高度段差和形狀信息。

2.根據被測物體的大小和精度要求,可針對 LS 系列靈活選型,搭設簡便,易于集成。


03

產品特點


1.高精度CMOS芯片,橫向輪廓數據最高3840點;

2.藍色半導體激光,最大限度保證穩定檢測;

3.優異的算法處理,集成動態曝光,動態3D輪廓算法等多項專有技術;

4.IP67等級防護,適應各種復雜應用環境;

5.靈活的視場寬度,各種型號可供選擇。


04

檢測案例


檢測需求:

1.精度要求:平面度重復性0.01mm以內;

2.速度要求:2.5s/pcs以內


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05

應用選型


方案采用wonsor一體式3D激光輪廓儀LS-4020,測量范圍±2.3mm,基準距離為20mm,Z軸重復精度可達0.4μm。
采用非接觸方式,無需擔心劃傷目標物;通過使用傾斜補正功能消除因目標物的 位置偏移所導致的誤差。


06

檢測結果


相機水平安裝,掃描卡托測量32組數據,重復性為0.005mm。

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07

客戶獲益


1.三維線激光掃描儀處理圖像速度快,效率高,檢測精度滿足項目需求;

2.核心芯片自主研發,高性價比,節約客戶成本;

3.一體式3D激光輪廓儀LS-4020高精度穩定測量,保證客戶生產品質管控。

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