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KEYENCE基恩士 SI-F80R系列分光干涉式晶片厚度計

產品簡介：: KEYENCE基恩士推出SI-F80R系列分光干涉式晶片厚度計，安裝在距離晶片80mm的位置，便可進行測量，即使是已封膠的晶片亦能測出其厚度。

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